重庆大学材料科学与工程学院唐文新教授团队研制了像差校正自旋极化低能电子显微镜(ac-SPLEEM)，其研究成果论文“Aberration corrected spin polarized low energy electron microscope”以重庆大学为第一单位和通讯单位发表在电子显微学顶级期刊《Ultramicroscopy》并被推送为封面文章。该项目受国家自然科学基金委国家重大仪器专项和重庆大学中央高校基本科研业务费的共同资助。
唐文新教授团队联合上海科技大学、复旦大学等国内外高校学者，研制的超快自旋极化像差校正低能电子显微镜，开启并建立了原位超快高分辨表面物理化学领域新方向。该设备在验收测试现场，磁横向分辨率高达3 nm，比历史发表记录20 nm分辨率高大约7倍。同时实现超快像差校正低能电子显微镜（TR-ac-LEEM）在超快模式下分辨率已达3.2 nm，自旋模式下达到9nm磁性分辨率，这是首次实现超快低能电子显微镜并可以探测超薄磁性样品表面。这系列探测技术的突破为超快表面科学研究提供了超高分辨的显微手段，是未来超快科学和高密度存储材料研发核心技术。
全文链接：https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S030439912030070X
